工业硅化学分析方法 第10部分:汞含量的测定 原子荧光光谱法
Methods for chemical analysis of silicon metal-Part 10:Determination of mercury content-Atomic fluorescence spectrometry method
检测标准
重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的 红外反射测量方法
Test method for thickness of lightly doped silicon epitaxial layers onnheavily doped silicon substrates by infrared reflectance
板式换热器用钛板
Tianium sheet for plate heat exchangers
半导体材料牌号表示方法
Designations of semiconductor materials
铌及铌合金棒材
Niobium and niobium alloys rods and bars
钽及钽合金棒材
Tantalum and tantalum alloy rods
工业硅化学分析方法 第11部分:铬含量的测定 二苯碳酰二肼分光光度法
Methods for chemical analysis of silicon metal-Part 11:Determination of chromium content-1,5-Diphenylcarbohydrazide spectrophotometric method
工业硅化学分析方法 第2部分:铝含量的测定 铬天青-S分光光度法
Methods for chemical analysis of silicon metal-Part 2:Determination of aluminum content-Chrome azurol S spectrophotometric method
工业硅化学分析方法 第1部分:铁含量的测定
Methods for chemical analysis of silicon metal-Part 1:Determination of iron content
工业硅化学分析方法 第3部分:钙含量的测定
Methods for chemical analysis of silicon metal-Part 3:Determination of calcium content
