半导体集成电路 模拟开关测试方法 (GB/T 14028-2018) Semiconductor integrated circuits-Measuring method of analogue switch 代替GB/T 14028-1992 发布时间: 2018-03-15 实施时间: 2018-08-01 阅读数量: (44) 标准分类: L 电子元器件与信息技术