电子电气产品中某些物质的测定 第3-1部分:X射线荧光光谱法筛选铅、汞、镉、总铬和总溴  (GB/T 39560.301-2020/IEC 62321-3-1:2013)

Determination of certain substances in electrical and electronic products-Part 3-1: Screening lead, mercury, cadmium, total chromium and totalbromine by X-ray fluorescence spectrometry

将被测样品放人XRF光谱仪的测量内或测量孔待测位置。或者,将手持式便式XRF光谱仪的测量窗口/测量孔与被测样品表面完全平齐接触。使用XRF光谱仪原级射束在预先选择的时间内照射样品表面，从而逐一激发被测样品产生所含元素的特征X射线，通过探测器检测所产生的特征X射线强度，并通过XRF光谱仪的校准转化为被测样品所元素的质量分数或含量。

发布时间： 2020-12-14

实施时间： 2021-07-01

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