附件2 土壤普查工作底图制作与样点布设 技术规范 （试行）
本技术规范明确了第三次全国土壤普查的工作底图制作、样点布设（含编码表、任务清单）等技术性、原则性要求。本技术规范适用于第三次全国土壤普查（以下简称土壤三普）。
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附件1 第三次全国土壤普查技术规程 （试行）
本技术规程统一规范了第三次全国土壤普查（以下简称“土壤三普”）的总体组织与任务要求，包括资料收集整理与准备工作、外业调查采样与内业测试化验等具体操作流程、质量控制体系、成果汇总与验收等。
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附件8 土壤样品制备与检测技术规范 （试行）
本技术规范明确了土壤样品制备、保存、流转和检测的方法及技术要求。本技术规范适用于第三次全国土壤普查工作。
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应用方案——何首乌配方颗粒
使用 JADE-PAK® KP-C18 1.7µm 100×2.1mm 色谱柱测试何首乌配方颗粒的含量测定项，对照品溶液和供试品溶液的二苯乙烯苷目标峰塔板数分别为 91191.3、90864.3，分离度均大于 1.50，满足标准要求。
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应用方案——杜仲配方颗粒
使用JADE PAK® KP-C18 1.7μm 100×2.1mm色谱柱测试杜仲配方颗粒的含量测定项，松脂醇二葡萄糖苷峰塔板数大于8000，满足标准要求。
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Trace 1300系列色谱仪该怎么维护“选配”
这期介绍气相色谱仪Trace 1300系列的年度维护建议及查“漏”补“缺”，以降低仪器故障率，在新的一年里使用更高效、更稳定。
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U3000该怎么维护“选配”-1
通常情况下，消耗型配件使用一段时间后，磨损较大，容易造成漏液、压力不稳定、基线漂移等现象，建议定期更换，以确保仪器持续的稳定性和优良的灵敏度
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热解吸气相色谱法测大硅片表面的有机污染物
半导体行业使用的有机试剂也会产生相应的挥发性有机物，对生产和环境造成污染，包括AMC、VOCs等。珀金埃尔默公司热脱附仪与气相色谱质谱联用，可实现洁净室或生产区域内空气的在线或离线采集进样，并检测出低浓度（<；ppb）的有机污染物
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环凯三层包装无菌平板培养基
专为洁净环境微生物监测所设计
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墨粉中总挥发性有机化合物（TVOC）热解析方案
半导体，化工材料制造检测中也多用到热解吸仪设备n案列：丙烯酸胶带用于半导体制造工艺中。对在半导体制造中使用的丙烯酸类胶带，通过释放气体分析(EGA)- MS和TD-GC/MS分析加热过程中有恶臭味的瑕疵品和良品，并分析瑕疵品中产生气味的原因。n在半导体器件和化学品制造的分析中，痕量元素杂质的控制对于性能具有至关重要的作用，甚至影响半导体产品的良品率。n半导体制造商需要在整个制造过程中拥有检测超痕量污染物的能力，包括晶圆、超纯水、化学试剂、光刻胶、电子特气、封装材料等。n半导体工艺的进步，对元素杂质和微粒污
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